(Transmission electron microscope: TEM) Çeşitli malzemelerin görüntüleme ve kırınım tekniklerini birlikte kullanarak kristal yapılarının incelenmesine imkân veren bir cihazdır. Bu cihazla çok küçük ve ince alanlar 1 milyon katı büyüklüğünde görüntülenir. Morfolojik özelliklerinin inceleneceği malzemenin katı olması gerekir.