Atomik Kuvvet Mikroskobu (AKM)

(Atomic force microscope: AFM) Atomlar arasındaki kuvveti kullanarak sivri uçlarla yüzeyi tarayan ve yüzeyin topografik görüntüsünü oluşturan mik­roskoptur. IBM’de çalışan Gerd Binnig ve Christoph Gerber’in 1986’da yaptığı bu cihaz bir pikap iğnesi gibi herhangi bir yüzeyi tarayabilmekte, üç boyutlu bir görüntü ortaya çıkarabilmekte ve cisimleri 1 milyon kat büyütebilmekte­dir. AKM, elektronik, telekomünikas­yon ve otomotiv gibi sanayi dallarında ayrıca aşınma, sürtünme, manyetiklik ve elektriksel yük gibi özelliklerin öl­çülmesinde kullanılmaktadır.